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GB/T 13452.2-2018 5.4.4\5.5.7\5.5.8 色漆和清漆 漆膜厚度的测定

5.4.4 条款:磁性法测量磁性基体上非磁性涂层的附加要求

该条款针对使用磁性法测量磁性基体(如钢铁)上非磁性涂层厚度,提出了进一步规范。首先强调仪器校准的重要性,需使用具有不同厚度的标准片对磁性测厚仪进行校准,以确保测量准确性。标准片的厚度范围应覆盖预期测量的漆膜厚度区间,且其磁性特性和表面粗糙度应与实际测量的基体 - 涂层系统相似。校准过程中,严格按照仪器操作说明,将测头置于标准片上,调整仪器读数与标准片标称厚度一致。 

此外,5.4.4 条款指出测量时要注意试样的表面状态。基体表面应平整、清洁,无油污、灰尘、氧化皮等杂质,以免影响测量结果。对于粗糙表面,可能需要进行适当处理,但需避免损伤涂层。在测量过程中,应保持测头与试样表面垂直且紧密接触,确保测量环境稳定,避免外界磁场干扰。同时,需在试样不同位置进行多次测量,以获取更具代表性的漆膜厚度数据。

5.5.7 条款:涡流法测量非磁性基体上非导电涂层的测量步骤

此条款详细阐述了利用涡流法测量非磁性基体(如铝、铜及其合金)上非导电涂层(如油漆、塑料涂层)厚度的具体操作流程。测量前,同样要对涡流测厚仪进行校准,使用与实际测量条件相近的标准片,确保仪器准确。校准完成后,将探头垂直放置在待测漆膜表面,轻轻施压,使探头与表面充分接触。待仪器读数稳定后,记录测量值。

测量步骤强调了测量点的选择原则。应根据试样的形状、大小及涂层可能的厚度分布,合理选取测量点。对于形状规则的试样,可采用网格状或圆周分布的方式选取测量点;对于形状不规则的试样,需在关键部位、边缘区域及预计涂层厚度变化较大的地方增加测量点。每个测量点应重复测量至少 3 次,取平均值作为该点的漆膜厚度测量结果,以减小测量误差。

5.5.8 条款:显微镜法测量透明涂层的特殊要求

5.5.8 条款专门针对透明涂层(如清漆)厚度测量给出特殊要求。采用显微镜法时,需制备合适的试样。通常是从涂层上切取一小片,经过镶嵌、研磨和抛光等处理,使涂层截面平整且清晰暴露,以便在显微镜下观察。

在显微镜下观察时,要选择合适的放大倍数,确保能够清晰分辨涂层与基体的界面,以及涂层内部的结构细节。测量时,通过显微镜的测量装置,准确读取涂层在不同位置的厚度值。由于透明涂层在显微镜下可能存在折射等光学现象,会影响测量精度,因此该条款强调要进行多次测量,并考虑适当的修正方法,以获得准确的漆膜厚度数据。同时,对于不同类型的透明涂层,可能需要采用特定的染色或其他辅助手段,以提高界面的清晰度,便于准确测量。

5.4.4、5.5.7 和 5.5.8 条款分别从不同测量方法和涂层类型出发,为漆膜厚度的准确测定提供了详细、实用的操作指南,有助于确保色漆和清漆漆膜厚度测量结果的可靠性和一致性。

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